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2020-08-05 | 中央社

JEOL:推出新的掃描電子顯微鏡JSM-IT700HR

SEM –日常實驗室操作中的必需品 – JSM-IT700HR使操作變得簡單

東京--(美國商業資訊)--JEOL Ltd.(TOKYO:6951)(總裁兼營運長:Izumi Oi)宣佈,將於2020年8月推出新的掃描電子顯微鏡(SEM) JSM-IT700HR,提供前所未有的高通量。

此新聞稿包含多媒體內容。完整新聞稿可在以下網址查閱:https://www.businesswire.com/news/home/20200803005011/en/

開發背景

掃描電子顯微鏡應用於奈米科技、冶金、半導體、陶瓷、醫學和生物學等各種領域。此外,SEM的應用範圍正在不斷擴大,涵蓋品質管制和基礎研究。對於更快速的高品質SEM影像資料擷取和更輕鬆地確認組成資訊的需求也在不斷增加。

JSM-IT700HR以我們屢獲殊榮的“InTouchScope™”系列SEM為基礎,配備我們的浸沒式(in-lens)肖特基(Schottky)場發射電子槍(FEG)。這款功能強大的新型SEM滿足日常實驗室操作中對進一步小型化材料進行觀察和分析的需求。

JSM-IT700HR具有1奈米高解析度和300 nA的最大探針電流(比以前型號高15倍),提供大量的觀察和分析資訊。簡單易用的使用者介面、可容納大樣本室的輕巧設計,以及為主控制台提供新的防震支架,均使觀察和分析比以前更加舒適。

為加強「簡易操作性」,JSM-IT700HR增加了整合到SEM GUI中的新功能,以顯示特性X射線生成深度。這有助於迅速瞭解樣本的分析深度(參考值),此對元素分析很有用。

提供兩種配置:1)用於高真空和低真空影像觀察的JSM-IT700HR/LV;2)帶有整合JEOL EDS系統的JSM-IT700HR/LA。

特性

1.浸沒式肖特基場發射電子槍有助於高畫質影像觀察和高空間解析度分析。2.Zeromag功能可連結Holder Graphics、CCD和SEM影像,使樣本導覽比以往更容易。3.借助我們的「Analytical系列」(即時分析功能),嵌入式EDS系統可在影像觀察期間顯示即時EDS光譜,以便進行高效的元素分析。4.顯示分析深度(特性X射線生成深度)的新功能支援快速元素分析。5.SMILE VIEW™ Lab可對影像和分析資料進行整合管理,有助於加快從蒐集的SEM影像到元素分析結果的所有資料生成報告。6.“Specimen Exchange Navi”可促成安全、簡單的樣本交換。7.借助自動電子束調整(Auto Beam Alignment)功能,電子光學條件始終保持最佳狀態。8.「抽出式交換系統」有助於輕鬆存取大樣本室,該樣本室可容納各種尺寸和類型的樣本。

銷售目標

130台/年(起始年)

網址:https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JSM-IT700HR.html

JEOL Ltd. 3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan Izumi Oi,總裁兼營運長(股票代碼:6951,東京證券交易所第一部)www.jeol.com

原文版本可在businesswire.com上查閱:https://www.businesswire.com/news/home/20200803005011/en/

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